对低本底 α 谱仪的基本技术要求由于一般环境介质中的 α 放射性水平都很低，同时 α 粒子的射程又极短，因此要进行 α能谱分析需要满---下几个基本要求：
（1）样品必须足够薄，以减少由样品自吸收使 α 谱软化而造成的“ 拖尾”，一般好---样品厚度在 50 μg/cm2以下；
（2）样品的面积足够大，或者对样品中的待测核素进行足够的浓缩，以满足探测灵敏度的要求；
（3）避免在样品制备过程中有核素被丢失，低本底ab测量系统，或者被其他核素交叉污染；
（4）由于低水平测量的计数时间很长，因此要求探测系统具有足够高的探测效率和---的长期工作稳定性。
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该仪器可配任意型号的计算机，测量程序在winxp 以上环境下运行，操作过程有中文提示，自动完成测量程序并打印结果。
该仪器全部性能指标符合规定的二级标准，好于目前国际上的同类产品；是当前---用闪烁法同时测量总α总β弱放射性的一代产品；是---较理想的低本底α、β测量仪。
金硅面垒半导体探测器己广泛用于 α 能谱分析。 它们的灵敏面积在 25 ～ 450 mm2，低本底ab测量系统厂家，抽空使用时能量分辨率（对 5. 5 mev）好可达到 13～30 kev。 但是通常作为环境样品低水平α能谱分析用的半导体探测器，低本底ab测量系统多少钱，一般只能采用较大面积（如直径 2. 5 cm 左右），而且总是在室温下不必抽空使用，因此其能量分辨本领半高全宽（fwhm）一般可能要大于 50 ～60 kev。
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