低本底ab测量系统-中核控制-低本底ab测量系统

低本底屏栅电离室法与半导体谱仪法的比较

半导体探测器已广泛用于 α 谱分析，其---优点是设备简单，分辨率高，但其缺点是探 测面积太小，因而除了微孔滤纸空气样品以外，需要进行化学分离制样，由于化学分离制备样品，其方法总是具有化学特---，因而制样的过程中会丢失某些核素。 程序一般较繁，耗费时间长，低本底ab测量系统多少钱，所以只适用于分析单个或少数几个已知核素，低本底ab测量系统厂家，不适用于未知样品的全核素分析，这就带来---的局限性。

低本底α、β测量仪的技术参数介绍

技术参数

1.对239pu α标准源的2π探测效率***85%时，本底≤0.08个计数cm-2h-1，典型值为 0.02个计数cm-2h-1。

2.对于90sr-90y β标准源2π探测效率***40%时，本底≤0.08个计数cm-2min-1，低本底ab测量系统，典 型值为0.03个计数cm-2min-1。

3.混道性能：α进入β道的计数效率≤1%，β进入α道的计数效率为零。

4.稳定性：8h后，α效率变化在±≤5%；β效率变化在±≤10%范围内。

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